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「第16回 自動認識総合展 (AUTOID & COMMUNICATION EXPO 2014)」
  出展のご案内

時下ますますご清祥のこととお慶び申し上げます。
来る2014年9月10日(水)~9月12日(金)の3日間、東京ビッグサイトにて開催されます「自動認識総合展」に弊社が出展致します。
弊社では、世界各国のタグメーカーやデザイナーから高い評価を受けているUHF帯RFIDタグおよびインレイの周波数特性測定および検査装置であるVoyantic社製Tagformance liteの実機展示やデモ実演のほか、RFIDインレイアッセンブルラインにおける大手メーカーであるMuehlbauer社製TAL 15000へのインライン検査装置の組込事例をご紹介します。

御多忙中とは存じますが、是非この機会に弊社ブースに御来臨賜りたくお願い申し上げます。市場競争力を獲得できる新技術をいち早く御紹介させて頂きたく存じます。

開 催 概 要

展示会名 : 第16回自動認識総合展
会  期 : 2014 年9 月10 日(火)~9 月12 日(金) 10:00~17:00
会  場 : 東京国際展示場「東京ビッグサイト」東 4 ホール
入  場 : 無料(事前登録)※招待券をお持ちでない方は、入場料 \1,000 となりますのでご注意ください。
公 式 HP : http://www.autoid-expo.com/tokyo/

出展製品・内容

●Voyantic社 (フィンランド) 製品情報  パネル展示、実機によるデモンストレーション
・UHF帯RFIDタグおよびインレイの周波数特性測定/検査装置
・UHF帯RIFDタグおよびインレイの品質検査装置




●Micropross 社(フランス)製品情報 パネル展示、実機によるデモンストレーション
・EMVCo/NFC Forum認定テストソリューション
・非接触デバイス向けハイエンド検査装置

お問い合わせ

アルテック株式会社
情報マネジメント営業部 担当 : 梶田
E-mail: kajita@altech.co.jp
TEL: 03-5542-6755 / FAX: 03-5542-6766