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「第18回 自動認識総合展 (AUTOID & COMMUNICATION EXPO 2016)」
  出展のご案内

時下ますますご清祥のこととお慶び申し上げます。
来る2016年9月14日(水)~9月16日(金)の3日間、東京ビッグサイトにて開催されます「自動認識総合展」に弊社が出展致します。
弊社では、世界各国のタグメーカーやデザイナーから高い評価を受けているUHF帯RFIDタグおよびインレイの周波数特性測定および検査装置であるVoyantic社製Tagformance liteのほか、インライン検査装置Tagsuranceを実機展示およびデモ実演を用いてご紹介します。

御多忙中とは存じますが、是非この機会に弊社ブースに御来臨賜りたくお願い申し上げます。市場競争力を獲得できる新技術をいち早く御紹介させて頂きたく存じます。

開 催 概 要

展示会名 : 第18回自動認識総合展
会  期 : 2016年9月14日(水)~9月16日(金) 10:00~17:00
会  場 : 東京国際展示場「東京ビッグサイト」 西4ホール M-7
入  場 : 無料(事前登録)※招待券をお持ちでない方は、入場料が発生しますので、ご注意ください。
事前登録 : http://www.autoid-expo.com/tokyo/jp/visit/
公 式 HP : http://www.autoid-expo.com/tokyo/

出展製品・内容

●Voyantic社 (フィンランド) 製品情報  パネル、実機展示
・UHF帯RFIDタグおよびインレイの周波数特性測定装置
・UHF帯RIFDタグおよびインレイのインライン品質検査装置

●Micropross 社(フランス)製品情報 パネル、実機展示
・NFC対応非接触デバイス向け検査措置
・NFC対応非接触&接触デバイス共用ツール

お問い合わせ

アルテック株式会社
情報マネジメント営業部 担当 : 上野
E-mail: ueno@altech.co.jp
TEL: 03-5542-6755 / FAX: 03-5542-6766